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mos容易烧是咋回事?

时间:2023-05-13 06:55:07  来源:  浏览量:

各位大师,最近用LTC4359做了一个电路,控制一个背靠背的MOS管。

输入最高是DC60V,在测试时,前面的MOS容易烧坏。

测试环境是:输入ACDC电源(DC60V,20A最大);输出接一个20欧姆滑动变阻器。

我是参考官方原理图做的。

我是并联两个MOS。

坏的时候是其中一个先坏。

已经坏过好几次了。

请大师们指点一下哪里因素造成的。

附件是参考原理图。

LTC4359qudong.pdf2020-1-17 20:20 上传点击文件名下载附件下载积分: 财富 -2 58.22 KB, 下载次数: 24, 下载积分: 财富 -2 LTC4359靠近输入端的MOS容易损坏。


图片中的MOS管。

如果用示波器的单通道去测G,S,可以吗?需要两个通道去测吗?
测试过程中,很明显地看到,是通过SHDN关闭芯片驱动输出,然后再使能SHDN驱动输出的过程中,靠近输入的MOS是击穿了。


典型应用是单向,理想二极管,你背靠背算什么?
版主好。

背靠背是让前面的管子充当一个负载开关。

有这样的用法,上传的是官方DEMO的参考原理图。


1, 为啥别个帮你看问题,下载还需要扣积分;2,你的问题看了几遍没看明白;你说的并联到底是左右两个模块并联起来用呢,还是左右各自模块里的充放电管有两个或多个?而且你的测试条件和测试方法也可以更详细的描述下,要不别人也不好替你分析原因,,哪个算前面的?到底哪个管子坏了,怎么测试坏的,看得我一头雾水呀。


不好意思。

我没注意,下载需要扣分吗?是不是没有设置好?
我也上当了
这是个只适合36V及以下电路的开关电路,尤其是你设计的参数;甚至只能安全承受12V的环境。

MOSFET不只VDS和RDSON!想想人家数据表好坏差不多十页,这点参数绝对花不了那么大劲。

唉!说清楚又得几百贴讨论。


版主你好。

我上传的是DEMO板图。

我的图是在这个基础上,更换了元件参数的,耐压都是选择100V的。

没有按36V耐压做。


VDS耐压基本与实际开关电压,在这种应用里没啥关系。

设计也不是以此为据。


你好,我在实际设计时用的是英飞凌的一个NMOS,VDS=100V,ID=150A。

其他电容参数也是100V的。

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