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通用电路板自动测试系统的设计与实现

时间:2016-10-11 08:38:52  来源:  浏览量:

  由于待测信号的频率相差较大,有直流信号,也有频率高于103 MHz 的脉冲信号,以及在其间的多种频率的信号,因此本系统采用低频和高频2 组信号采样电路,来适应不同信号采集的需要。

  1.3 主要芯片介绍

  本系统中用到的主要芯片有:主芯片EP2S63,AD 采样芯片AD7864 和AT84AD331。以下对这3 种芯片进行简要介绍:

  EP2S63 是ALTERA 公司的Strati 系列的FPGA,该系列的FPGA 采用先进的93 nm 生产工艺;将FPGA 性能推向了新高度,该系列是业界最快、密度最高的FPGA。EP2S63 拥有多达84个专用LVDS 差分逻辑接收通道,每个LVDS 通道数据传输速率最高达1 Gb/s。其内部具有专门的高速数字锁相环电路,能够产生可供ADC 电路使用的时钟信号。

  AD7864 是一种较低速、低功耗、可以4 通道同时采样的12b A/D转换器。它拥有12 位A/D转换器,可同时采样4 个输入通道,并具有4 个采样、保持放大器;单电源供电(+5 V),多个转换电压范围, 对于每一个模拟输入通道均有过压保护电路;4 通道同时工作时,最大采样率为133 kHz。

  AT84AD331 是Atmel 公司生产的高速采集芯片。该器件集成了两路(I 和Q)独立的ADC,具有8 b 转换精度,每个通道具有l Gs/s 的采样率,在交错模式下采样率达2 Gs/s。本芯片基于高速应用场合的要求,模拟输入、数字时钟输入、数字时钟输出、数据输出,同步时钟输出都采用差分方式。数据输出采用LVDS标准,其传输率可达1 Gb/s,使用其内部的多路分离器,可以降低输出数据率,也可以方便地与多种类型的高速FPGA 直接相连。

  采用1∶2 模式时,输出数据速率降为533 Mb/s,可以满足多数FPGA 接收数据的要求。

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