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测试LED贴片寿命和实验

时间:2013-10-21 08:21:54  来源:  浏览量:

  4.加速老化和寿命测试系统

  对于加速老化和寿命的测试,无论采用北美体系或IEC体系,其硬件测量装置基本相同,一般主要包括恒温试验箱、多路电源、多路温度巡检仪等。目前国内外对于LED加速老化和寿命测试系统的研制也十分关注。由于LED光源或灯具的光色性能需在室温(25℃±1℃)条件下测量,因此国外典型设备一般需要和积分球光谱仪系统结合起来,在LED老化到一定时间后冷却恒温箱内温度,并将被测LED取出到积分球系统中进行光色测量。该操作过程很繁琐,若测试间隔时间较短,则整个老化测试十分费时费力,而当测试间隔较长是,则不能及时反映LED光色参数的变化过程,被测LED的失效时间的记录误差较大。

  在我国863计划课题的支持下,杭州远方光电通过自主创新,开发了即加速老化和光色测试于一体的测试系统,如图1所示为系统照片。系统具备90个功位,可分三温区同时老化测试90个被测LED(30个×3),其结构主要特点是在恒温箱中设置光信号取样装置,并与光色测量设备相连,被测LED的光色参数可在箱内直接而不需要取出测量,可全自动实现老化测试以及数据分析。使得原本漫长而繁复的LED老化、寿命试验和温度试验变得十分的简单与轻松,数据更为精确可靠。设备含有多项远方公司独有的专利技术,整个设备设计整体性好,美观大方,无论是使用者还是评估者,无论是内在还是外观,都会让人信服。‖

  利用上述测量装置,还可在不同的环境温度下(高温状态),测量被测LED的光色度,获得LED光度-环境温度曲线(温度特性试验)。图2为典型的LED相对光通量随环境温度的变化曲线,满足IESLM-82-11[2]以及关于CFL[3]的国内外标准的要求。

  5.小结

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