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测试LED贴片寿命和实验

时间:2013-10-21 08:21:54  来源:  浏览量:

  LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0,其主要退化包括:抗电磁干扰能力:静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特性;盐雾、耐湿、振动等。

  3.相关标准要求

  针对LED的主要缓变退化,国际上已有相关标准相继发布,以是北美体系和国际照明委员会(IEC)体系最为典型,我国标准则基本融合了这两个体系。

  •ENERGYSTAR®ProgramRequirementsProductSpecificationELigibilityCriteria;

  •IESLM-80-08ApprovedMethodforMeasuringLumenMaintenanceofLEDLightSources;

  •IESTM-21-11ProjectingLongTermLumenMaintenanceofLEDPackages

  •IEC/PAS62717LEDmodulesforgenerallighting–Performancerequirements

  •EC/PAS62722-2-1LuminairePerformance–Part2-1:ParticularrequirementsforLEDluminaires

  •我国的GB/T24824、GB/T24823、QB/T4057等

  •我国的GB/TXXXXLED加速寿命试验方法(尚未发布)

  ‖

  3.北美体系和IEC系统对LED寿命和寿命试验方法的要求

  北美体系和IEC系统在对LED产品的寿命要求和试验方法方面都有所区别,但针对于LED灯具寿命的评估,二者都提出直接老化测试灯具,或根据封装LED、LED模块等的老化试验进行推算。

  3.1北美体系

  如表1所示,EnergyStar将对LED灯具寿命的试验方法分为选项1和选项2,其中,选项1是通过测试光源推导灯具的寿命;而选项2仅适用于光源和灯具不可分的一体化灯具,直接测试灯具的光通维持率。选项1,L70(6k)的表示是指,利用6000h(6K)的老化测试推导出的流明维持寿命L70的时间。

  现对LM-80和TM-21两个标准的要求总结如下:

  适用范围:LED封装、模块、阵列等;

  考察对象:只考察光通维持寿命,即缓变失效因素

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