 图8： 跟踪模式（实施采样时）下，ADC内部输入网络的AC性能。 ADC internal input Z：ADC内部输入阻抗 通常，任何数据手册都会给出某种形式的静态差分输入阻抗、以及通过仿真获得的R||C值。本文所述方式所用的模型非常简单，目的是求出高度近似值并简化数学计算。否则，如果等效阻抗模型还包括采样时钟速率和占空比，那么很小的阻抗变化就可能使数学计算变得异常困难。 还应注意，这些值是ADC内部电路在跟踪模式下采样过程（即对信号进行实际采样）中的反映。在保持模式下，采样开关断开，输入前端电路与内部采样处理或缓冲器隔离。 推导该简单模型（图8）并求解实部和虚部： Z0 = R， Z1 = 1/s • C， s = j • 2 • π • f， f = frequency ZTOTAL = 1/（1/Z0 + 1/Z1） = 1/（1/R + s • C） = 1/（（1 + s • R • C）/R）） = R/（1 + s • R • C） 代换s并乘以共轭复数： ZTOTAL = R/（1 + j • 2 • π • f • R • C） = R/（1 + j • 2 • π • f • R • C） • （（1 – j • 2 • π • f • R • C）/（1 – j • 2 • π • f • R • C）） = （R –j • 2 • π • f • R2 • C）/（1 + （2 • π • f • R • C）2） 求出“实部”（Real）和“虚部”（Imag）： ZTOTAL = Real + j • Imag = R/（1 + （2 • π • f • R • C）2） + j • （–2 • π • f • R2 • C）/（1 + 2 • π • f • R • C）2）
测量DCDC电路的MOS管的D脚的波形不该IC是PWM控制，现在是带负载到了CCM模式，MOS管的D极波形不稳定，开关频率也在变化，一般是什么问题引起的？
测量损耗 求助！！！
我现在计算了一组LLC电路的损耗，包含开关管、谐振电感、变压器，请问大神们，如何去测量损耗，用来检验是否符合计算值？？？
测MOSFET关断时两端的电压和前级电流 差不多是M 高频电流测量的问题如何测量频率为300kHz左右的电流？电流大小呢，小的话用电阻分压，大的话做个电流互感器电流大小为10A左右，电流互感器测得的波形质量不是很好。有没有其他更好的办法?看看有不有电 USB无线网络适配器在嵌入式系统中的应用 WLAN技术和嵌入式技术是目前比较热门的两个研究方向，而将二者相结合，即具有无线接入功能的嵌入式系统更具有诱人的发展前景。本文介绍了将IEEE802.11b无线网络适配器与嵌
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