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片上芯片SoC挑战传统测试方案

时间:2016-08-20 19:22:09  来源:  浏览量:

  SoC测试中当前的困境大多是由于采用早期几代IC对测试要求不高而造成的。最新的设计虽提高了易测程度但仍缺乏应对当前流程中普遍问题的能力。在传统的连续开发流程中(图1a),设计工程师设计时所掌握的有关信息很少,可利用的测试设备也有限,因而可能在最终开始测试后很久才会发现所遇到的问题,造成额外费用并拖延时间。

  SoC器件目前不断增加的复杂程度,促使主要的厂商青睐采用更有效的SoC生产导向设计测试流程法(图1b)。该方法使各个测试小组分工明确,测试研发工作平行展开。各测试小组集中攻关的结果是同步拿出最优化的设计方案和更有效的测试程序。工程师们在转移到大批量生产之前,就已充分掌握了器件性能。制造商可以有效平衡高配置的SoC平台的灵活性,使其满足不同新产品类型组合的需要,在实现快速批量供应的同时,全面降低测试成本。

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